電能質(zhì)量是指通過公用電網(wǎng)供給用戶端的交流電能的品質(zhì)，通俗來說就是指電網(wǎng)線路中電能的好壞情況。電能質(zhì)量問題主要由終端負(fù)荷側(cè)引起。例如沖擊性無功負(fù)載會使電網(wǎng)電壓產(chǎn)生劇烈波動，降低供電質(zhì)量。

隨著電力電子技術(shù)的發(fā)展，它既給現(xiàn)代工業(yè)帶來節(jié)能和能量變換積極的一面，同時電力電子裝置在各行各業(yè)的廣泛應(yīng)用又對電能質(zhì)量帶來了新的更加嚴(yán)重的損害，已成為電網(wǎng)的主要諧波污染源。

電網(wǎng)系統(tǒng)中各個用戶端配電網(wǎng)中使用的整流器、變頻調(diào)速裝置、電弧爐、電氣化鐵路以及各種電力電子設(shè)備不斷增加。給用電網(wǎng)絡(luò)造成影響或者說是用電污染。造成電壓不穩(wěn)、過電壓、產(chǎn)生諧波等。諧波使電能的生產(chǎn)、傳輸和利用的效率降低，使電氣設(shè)備過熱、產(chǎn)生振動和噪聲，并使絕緣老化，壽命縮短,甚至發(fā)生故障或燒毀。諧波還會引起電力系統(tǒng)局部發(fā)生并聯(lián)諧振或串聯(lián)諧振，使諧波含量被放大，致使電容器等設(shè)備燒毀。

這些負(fù)荷的非線性、沖擊性和不平衡的用電特性，對供電質(zhì)量造成嚴(yán)重污染。因而消除供配電系統(tǒng)中的高次諧波問題對改善電能質(zhì)量和確保電力系統(tǒng)安全、穩(wěn)定、經(jīng)濟運行有著非常積極的意義。

        鍵盤共有30個鍵，分別為：開關(guān)、存儲、查詢、設(shè)置、切換、↑、↓、←、→、?、退出、自檢、幫助、數(shù)字1、數(shù)字2（ABC）、數(shù)字3（DEF）、數(shù)字4（GHI）、數(shù)字5（JKL）、數(shù)字6（MNO）、數(shù)字7（PQRS）、數(shù)字8（TUV）、數(shù)字9（WXYZ）、數(shù)字0、小數(shù)點、＃、輔助功能建F1、F2、F3、F4、F5。

        各鍵功能如下：

        開關(guān)鍵：用來控制儀器工作電源的開啟和關(guān)閉；使用方法是：開機－按下此鍵并松開；關(guān)機－按住此鍵２秒鐘以上（屏幕中央會顯示“系統(tǒng)關(guān)機"字樣）然后松開。

        ↑、↓、←、→鍵：光標(biāo)移動鍵；在主菜單中用來移動光標(biāo)，使其指向某個功能菜單，按確認(rèn)鍵即可進(jìn)入相應(yīng)的功能；在參數(shù)設(shè)置功能屏下上下鍵用來切換當(dāng)前選項，左右鍵改變數(shù)值。另外，↓還可以用于顯示子目錄菜單。

        ?鍵：確認(rèn)鍵；在主菜單下，按此鍵顯示菜單子目錄，在子目錄下，按下此鍵即進(jìn)入被選中的功能，另外，在輸入某些參數(shù)時，開始輸入和結(jié)束輸入。

        退出鍵：返回鍵，按下此鍵均直接返回到主菜單。

        存儲鍵：用來將測試結(jié)果存儲為記錄的形式。

        查詢鍵：在主菜單按下此鍵直接進(jìn)入<磁盤查閱>功能屏。

        設(shè)置鍵：在主菜單按下此鍵直接進(jìn)入<參數(shù)設(shè)置>功能屏。

        切換鍵：保留功能，暫不用。

        自檢鍵：儀器調(diào)試過程中用來燒字庫，此功能用戶不需用到。

        幫助鍵：在主菜單按下此鍵直接進(jìn)入<幫助文件>功能屏。

        數(shù)字（字符）鍵：用來進(jìn)行參數(shù)設(shè)置的輸入（可輸入數(shù)字或字符）。

        小數(shù)點鍵：用來在設(shè)置參數(shù)時輸入小數(shù)點。

        ＃鍵：保留功能，暫不用。

        F1、F2、F3、F4、F5鍵：輔助功能鍵（快捷鍵）。用來快速進(jìn)入輔助功能界面或?qū)崿F(xiàn)提示信息提示的相應(yīng)功能。

        F1：在各菜單按下此鍵直接進(jìn)入<二次參數(shù)>測試功能，在各測試功能屏 做為屏幕 鎖定鍵；

        F2：在各菜單按下此鍵直接進(jìn)入<波形顯示>測試功能，在各測試功能屏 做為屏幕 解鎖鍵；

        F3：在各菜單按下此鍵直接進(jìn)入<頻譜分析>測試功能；

        F4：在各菜單按下此鍵直接進(jìn)入<電壓諧波>測試功能；

        F5：在各菜單按下此鍵直接進(jìn)入<電流諧波>測試功能，在<移動存儲>功能屏下做為 USB聯(lián)接確認(rèn)鍵；

        當(dāng)5分鐘內(nèi)無按鍵按下時液晶自動關(guān)閉顯示，按任意鍵可恢復(fù)顯示。